Автор книги: Д. Брандон, У. Каплан
Издательство: Техносфера
Страниц: 384
Доп. информация: ISBN 5-94836-018-0, 0-471-98501-5. Дата издания: 2006 г.
Размер файла: 17,664 Mb
Формат документа: PDF
Скачали раз: 26

Добавил пользователь: Maistre

Описание книги:

Первый учебник на русском языке по современным методам исследования для материаловедения. Чрезвычайно четко и детально описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии. Количественные методы микроанализа включают и рентгеновские микроанализаторы, встроенные в новейшие модели электронных микроскопов.Книга адресована широкому кругу ученых, инженеров и студентов, занимающихся изучением и разработкой новых материалов, нанотехнологиями.

Возможно вас заинтересуют книги:

Россия в ХХ веке. Народ, власть, войны, революции, общество
Автоматизация судовых энергетических установок
Дворянское гнездо. Отцы и дети. Ася. Первая любовь. Вешние воды
Дело нервного сообщника
Последний путь Владимира Мономаха

У нас вы можете скачать книгу "Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля" от автора - Д. Брандон, У. Каплан издательства - Техносфера в форматах pdf, doc, txt, fb2, djvu, java, бесплатно, без регистрации и отправки смс, чтобы потом прочитать её на своём компьютере, КПК или телефоне. Размер этой книги 17,664 мегабайт.